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ASD | LabSpec地物光譜儀在反演土壤水分特征曲線方面的應(yīng)用

對(duì)地表入滲和蒸發(fā)通量的分配，以及準(zhǔn)確量化不同空間尺度下土壤與大氣之間的質(zhì)量和能量交換過(guò)程，都需要了解土壤的水文性質(zhì)（如土壤水分特征曲線和導(dǎo)水率特征曲線）。土壤水分特征曲線（SWRC）描述了在基質(zhì)勢(shì)下土壤水分含量的平衡情況，是重要的水文特性，與土壤孔隙的大小分布和結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，受土壤結(jié)構(gòu)、質(zhì)地、有機(jī)物和粘土礦物等因素的影響。傳統(tǒng)測(cè)量SWRC的實(shí)驗(yàn)室方法繁瑣，數(shù)據(jù)往往不完整，且只覆蓋有限的水分含量范圍。近年來(lái)，近程和遙感技術(shù)得到了廣泛關(guān)注，特別是在光學(xué)域內(nèi)的土壤反射光譜已被用于獲取土壤礦物學(xué)和化學(xué)成分、有機(jī)物含量、粒度分布及水分含量等信息。這些研究為衛(wèi)星遙感提供了大尺度測(cè)繪的基礎(chǔ)。傳統(tǒng)方法主要依賴光譜轉(zhuǎn)移函數(shù)，盡管能有效推斷土壤水力特性，但需大量數(shù)據(jù)進(jìn)行模型校準(zhǔn)。本文提出了一種新的實(shí)驗(yàn)室方法，通過(guò)水分含量依賴的短波紅外（SWIR）土壤反射光譜直接估計(jì)SWRC，利用最近開(kāi)發(fā)的前向輻射傳輸模型，僅依賴水分含量-反射率數(shù)據(jù)對(duì)，計(jì)算更高效，無(wú)需反演流動(dòng)方程，簡(jiǎn)化了測(cè)量過(guò)程。為了測(cè)試提議的新實(shí)驗(yàn)室方法，作者使用了21種亞利桑那州土壤，這些土壤的質(zhì)地（表 1）和礦物成分（即高嶺石、云母/伊利石、蒙脫石、蛭石、綠泥石和黑云母含量）有很大差異。下面提供了實(shí)驗(yàn)確定的 SWRC 和干燥土壤的反射光譜的描述。表 1. 亞利桑那州土壤的質(zhì)地特性使用ASD LabSpec®2500 地物光譜儀測(cè)量不同含水量水平的土壤反射光譜。波長(zhǎng)范圍：350-2500nm。將烘干的土壤樣品通過(guò)2mm篩子，然后裝入直徑為40mm、高度為1.5mm的黑色金屬容器中。反射率測(cè)量采用與SWRC測(cè)量相同的目標(biāo)填充密度。樣品經(jīng)過(guò)仔細(xì)平整（即不壓實(shí)以盡量減少陰影效應(yīng)）。土壤樣品最初用2毫升注射器浸透，在土壤從浸透到風(fēng)干的過(guò)程中，每3分鐘自動(dòng)獲取一次反射光譜。圖 2. (a) 假設(shè) θo= 0.18, l...

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教程-Resonon室內(nèi)高光譜成像系統(tǒng)（二)

Resonon室內(nèi)高光譜成像系統(tǒng)的校準(zhǔn)過(guò)程。

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教程-Resonon室外高光譜成像系統(tǒng)(二)

Resonon 室外高光譜成像系統(tǒng)聚焦教程

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教程-Resonon室外高光譜成像系統(tǒng)(一）

高光譜數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換

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教程-使用 Spectronon 軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析

如何使用Spectronon軟件處理分析從Resonon高光譜成像系統(tǒng)獲得的高光譜數(shù)據(jù)。

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教程-室外高光譜系統(tǒng)軟件設(shè)置

使用室外高光譜系統(tǒng)同步運(yùn)動(dòng)平臺(tái)速度和幀速率的教程。

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Resonon 機(jī)載高光譜成像系統(tǒng)應(yīng)用界面展示

Resonon機(jī)載高光譜成像系統(tǒng)可配合無(wú)人機(jī)、有人機(jī)使用。包含用于采集和分析高光譜數(shù)據(jù)的所有硬件和軟件。機(jī)載系統(tǒng)可與Resonon覆蓋紫外線、可見(jiàn)光和紅外線光譜范圍的任何高光譜相機(jī)一起使用。價(jià)格合理、結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用，圖像質(zhì)量卓越。

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