美國(guó)ASD公司（現(xiàn)隸屬于荷蘭帕納科）重磅推出FieldSpec 4地物光譜儀Hi-Res NG，將光譜分辨率提升至6nm，這進(jìn)一步提高了下一代高光譜成像傳感器的分析精度，是地物光譜儀器的一次重要變革。
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更高分辨率的高光譜儀器可以協(xié)助用戶提高遙感分類應(yīng)用的精度，識(shí)別更多之前無法從高光譜圖像中獲取的點(diǎn)像元信息。為了充分發(fā)揮下一代傳感器的潛能，那么基于地面測(cè)量的光譜儀器滿足或者超越成像傳感器的光譜分辨率，如果分辨率達(dá)不到高光譜成像的要求，那么數(shù)據(jù)在后處理過程中會(huì)因插值而丟失重要的光譜信息。
? ? ? FieldSpec 4 Hi-Res NG 地物光譜儀大大提升了光譜分辨率，正是為了滿足下一代高光譜成像系統(tǒng)（如：AVRIS-NG、HySpex ODIN-1024）的嚴(yán)格要求而設(shè)計(jì)。除了優(yōu)越的光譜分辨率，像所有ASD地物光譜儀一樣，F(xiàn)ieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR檢測(cè)器，在350nm到2500nm的全光譜范圍進(jìn)行1875波段（編碼通道）的檢測(cè)，從而提供更小的采樣間隔（采樣帶寬），確?？梢詸z出樣品最細(xì)微的光譜特征。
性能指標(biāo)
波長(zhǎng)范圍 | 350-2500 nm |
? 光譜分辨率 | 3 nm @ 700 nm
6?nm? @ 1400/2100 nm |
采樣間隔 | 1.4 nm @ 350-1000 nm
1.1?nm @ 1001-2500 nm |
掃描時(shí)間 | 100 ms |
雜散光 | VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01% |
波長(zhǎng)重復(fù)性 | 0.1 nm |
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | 0.5 nm |
最大輻射 | VNIR 2?倍太陽(yáng)光, SWIR 10?倍太陽(yáng)光 |
通道數(shù) | 2151 |
檢測(cè)器 | VNIR?檢測(cè)器?(350-1000 nm): 512?像元硅陣列傳感器
SWIR 1?檢測(cè)器?(1001-1800 nm): InGaAs?檢測(cè)器, TE?制冷
SWIR 2?檢測(cè)器?(1801-2500 nm): InGaAs?檢測(cè)器, TE?制冷 |
輸入 | 1.5 m?光纖(25°?視場(chǎng)).?可選前置鏡頭改變視場(chǎng)角 |
等效噪聲輻射（外接光纖） | VNIR? 1.0 X10-9??W/cm2/nm/sr @700 nm
SWIR 1??8.0 X10-9? W/cm2/nm/sr @ 1400 nm
SWIR 2??8.0 X10-9? W/cm2/nm/sr @ 2100 nm
? |
重量 | 5.44 kg |
校準(zhǔn) | 波長(zhǎng),?絕對(duì)反射率,?輻射度*,?福照度*.所有的校準(zhǔn)可NIST溯源. (*輻射定標(biāo)可選) |
電腦 | Windows? |
保修 | 一年整機(jī)保修（包含專家支持） |